Введение продукта
Система тестирования эффекта DX -60 состоит из электромагнитного, электромагнитного источника питания, источника высокого постоянного тока, высокого варианта вольтметра, держателя эффекта зала, стандартных образцов и системного программного обеспечения. Специально разработанный для этой системы прибора DX -320 EffectOmeter интегрирует источник постоянного тока, шесть с половиной цифр микроволт-метр и комплексные переключения реле измерения зала в одну единицу, значительно упрощая экспериментальную проводку и работу.
DX -320 может использоваться независимо в качестве источника постоянного тока или измерителя микроволта. Он используется для измерения важных параметров полупроводниковых материалов, таких как концентрация носителей, подвижность, удельное сопротивление, коэффициент зала и т. Д. Эти параметры необходимы для понимания электрических свойств полупроводниковых материалов и устройств, что делает систему испытательного эффекта зала необходимым инструментом для понимания и исследования полупроводниковых устройств и полупроводных материалов.
Результаты эксперимента автоматически рассчитываются программным обеспечением, обеспечивая одновременные значения для концентрации объемного носителя, концентрации листовых носителей, подвижности, удельного сопротивления, коэффициента зала, магниторезистентности и многого другого.
Параметры dx -60 прибор измерения эффекта зала.
|
L Параметры |
Концентрация носителя |
10³cm⁻³ - 10 ² ним cm⁻³ |
|
Мобильность |
0 .1 cm²/ volt*sec - 10 ⁸cm²/ volt*sec |
|
|
Диапазон удельного сопротивления |
10⁻⁷ ohm*cm - 10 ¹² ohm*cm |
|
|
Зал напряжение |
1 uv - 3 v |
|
|
Коэффициент зала |
10⁻⁵ - 10 ²⁷cm³/ c |
|
|
Тестируемый тип материала |
Полупроводниковый материал |
SIGE, SIC, INAS, Ingaas, INP, Algaas, HGCDTE и ферритов и т. Д. |
|
Материал низкого сопротивления |
Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабо магнитные полупроводниковые материалы, материалы TMR и т. Д. |
|
|
Материал высокого сопротивления |
Полуинтуляционные гаас, ган, CDTE и т. Д. |
|
|
Материал проводящих частиц |
Тип P и тестирование материалов типа N |
|
|
Магнитная полевая среда |
Тип магнита |
Переменный электромагнит |
|
Величина магнитного поля |
1070mt (шаг полюса составляет 10 мм) |
|
|
Униформа |
1% |
|
|
Дополнительная магнитная среда |
Электромагнит соответствующего магнитного размера можно настроить в соответствии с потребностями клиентов |
|
|
Электрические параметры |
Текущий источник |
50. 00 na - 50. 00 ma |
|
Текущее разрешение источника |
0. 0001UA |
|
|
Измерение напряжения |
0 ~ ±3V |
|
|
Разрешение измерения напряжения |
0. 0001 мв |
|
|
Другие аксессуары |
Затенение |
Вне установленные светоотремляющие запасные детали делают тестовый материал более стабильным |
|
Размер выборки |
Максимум 10 мм * 10 мм |
|
|
Шкаф для коробки |
600*600*1000 мм |
|
|
Тестовая часть |
Зал эффект Института полупроводников, Китайская академия наук Стандартные образцы тестов и данные: 1 набор |
|
|
Создание омических контактов |
Электрический паяльный железо, индийный чип, припой, эмалированная проволока и т. Д. |
|
|
Однолоковое автоматическое измерение может быть выполнено без необходимости работы человека после начала теста |
||
|
Программное обеспечение может выполнять кривую IV и кривую BV |
||
|
Установить в программном обеспечении для автоматического измерения температуры |
||
|
Результаты эксперимента измеряются, и данные будут временно сохранены в программном обеспечении. Если требуется долгосрочное хранилище, данные могут быть экспортированы в таблицу Excel, чтобы облегчить более позднюю обработку данных. |
||
|
Предоставьте эффект зала стандартные образцы тестов и данные Института полупроводников, Китайская академия наук: 1 набор |
||
Проверяемые образцы прибора для устройства зала
Часто задаваемые вопросы